產品介紹

主要概述：超聲波涂層測厚儀適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。測量分辨率達0.001mm，測量范圍薄至0.02mm，可以同時測量涂層和基材的厚度。

超聲波涂層測厚儀可應用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各個領域。符臺 標準《超聲波測厚儀校準規范》 JF1126-2004。

主要功能：

測量范圍寬，小測量厚度,涂層20um，大測量厚度1800mm:● 可測每一層薄0.02mm(20um)，對聲速2310m/s的塑料材料，0.05mm(50um)。對聲速低于1000m/s的涂層材料，薄可測0.02mm(20um)，加基材測量厚度厚可達1800mm，可以測十層復合層每一層的厚度但不限于十層(無數層)，且不限于涂層和基材的材質，任何材質均可以測量;

高精度測厚，高測量分辨率可達0.001mm;重復分辨率可達士0.002mm:A-掃描模式，B-掃描模式，數值顯示模式:具有穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料;根據材料聲速不同可以檢測部分復合材料上的涂層和和漆層，可以同時測量10個以上的多層材料各層厚度，同一回波下切換顯示各層厚度值;多種測量:THIN，MB-E，E-E，Auto模式滿足對常規厚工件測量;THIN E-E模式對薄涂層

測里金屬和非金屬(玻璃，復合材料，塑料，混土，木材等)基材上涂層厚度適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、樹脂、玻璃纖維及其他超聲波的良導體的厚度。

基本原理：

采用脈沖反射超聲波測厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的超薄薄膜材料或者涂層厚度的測量。